吉田尚樹さん(修士1年)が公益社団法人応用物理学会23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopyの優秀ポスター賞を受賞しました。

受賞日：　2015年12月11日
氏名：　吉田 尚樹
学年：　修士1年
所属：　情報科学研究科 情報エレクトロニクス専攻 先端エレクトロニクス講座 ナノエレクトロニクス研究室
授与団体：　公益社団法人応用物理学会 23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
賞名：　優秀ポスター賞
受賞論文名，研究題目名または受賞理由：
｢Study for the measurement of interaction force by means of FM-AFM (FM-AFMを用いた相互作用力の測定に関する研究)｣
問い合わせ先：　Tel 011-706-6537, E-mail sueoka[a]ist.hokudai.ac.jp (末岡和久)