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著書、論文など

1. 査読付き学術誌論文

(1)　和田俊和, 尾崎晋作, 前田俊二, 渋谷久恵, Gaussian Processes Regression に基づく時系列データの異常モニタリング, 電子情報通信学会誌, Vol.J96-D, No.12, pp.3068-3078(2013)
(2)　近藤正一, 金子俊一, 高氏秀則, 前田俊二, 渋谷久恵, ロバストかつ高い収束性能を持つ二次元点群照合アルゴリズム, 精密工学会誌, Vol.79, No.11, pp.1130-1136(2013)
(3)　渋谷久恵, 前田俊二, 運転パターン情報を利用した異常検知技術, 電気学会論文誌C, Vol.133, No.10, pp.1998-2006(2013)
(4)　渋谷久恵, 前田俊二, 決定木を利用したルール設定支援機能を備えた設備監視システム, 電気学会論文誌C, Vol.133, No.9, pp.1845-1852(2013)
(5)　前田俊二, 渋谷久恵, 部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討, 精密工学会誌, Vol.78, No.12, pp.1087-1092(2012)
(6)　浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実, 欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法, 電気学会論文誌 C, Vol.129, No.5, pp.778-785(2009)
(7)　渋谷久恵, 高木裕治, 細谷直樹, 欠陥分布パターン照合に基づく問題工程特定技術, 精密工学会誌, Vol.75, No.2, pp.256-261(2009)
(8)　近藤和樹, 菊地啓, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二, ランダム特徴選択とバギングを利用した欠陥分類, 画像電子学会誌, Vol.38, No.1, pp.9-15(2009)
(9)　浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田　実, 局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パターン照合への応用, 電子情報通信学会誌, Vol.J90-D, No.10, pp.2798-2806(2007)
(10)　渋谷久恵, 岡部隆文, 中川泰夫, 決定木を利用した欠陥分類ルールの自動生成技術, 画像電子学会誌, Vol.36, No.5, pp.731-737(2007)
(11)　渋谷久恵, 高木裕治, 中川泰夫, 点群分布パターン識別に基づく欠陥分類技術, 電気学会論文誌C, Vol.127, No.4, pp.521-527(2007)
(12)　高木裕治, 渋谷久恵, 細谷直樹, 欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法, 電気学会論文誌C, Vol.124, No.3, pp.748-75(2004)
(13)　本田敏文, 山村久恵, 野本峰生, Automated Visual Inspection for Solder Joints of PCB Based on 3D Image Analysis, Journal of Robotics and Mechatronics, Vol.11, No.2, pp104-112(1999)

2. 査読付き国際会議論文

(1) Shouichi Kondo, Shun'ichi Kaneko, Shunji Maeda, Hisae Shibuya, Hidenori Takauji, A Robust Point Registration of Imbalanced 2D Point Sets based on Parameter-Adaptive LCPD, QCAV2013, Proceedings of the 11th International Conference on Quality Control by Artificial Vision (2013) (2) Hidenori Takauji, Shun'ichi Kaneko, Shouichi Kondo, Hisae Shibuya, Shunji Maeda, Minoru Yoshida, Yasuo Nakagawa , A Robust Point Registration of Imbalanced Point Sets based on Parameter-Adaptive LCPD, FCV2010, Proceedings of the 16th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2010,pp.6-11(2010)
(3) Kei Kikuchi, Kazuki Kondo, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Class-Unbalanced Defect Classification Using Multistep Learning, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.82-87(2008)
(4) Kazuki Kondo, Kei Kikuchi, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Defect Classification Using Random Feature Selection and Bagging, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.76-81(2008)
(5) Akira Hamamatsu, Hisae Shibuya, Yoshimasa Oshima, Shunji Maeda, Hidetoshi Nishiyama, Minori Noguchi, Statistical Threshold Method for Semiconductor Inspection, 12th A-PCNDT(Asia- Pacific Conference on Non-Destructive Testing)(2006)
(6) Hisae Shibuya, Yuji Takagi, Practical Pattern Detection from Distributed Defect Points on a Semiconductor Wafer, MVA2002, Proceedings of the IAPR Workshop on Machine Vision Applications, pp.10-13(2002)
(7) Hisae Shibuya, Tatsuo Horiuchi, Kunisuke Kasagi, Beam Profile Measurement System for Focus Evaluation of CRTs, IDW'00, Proceedings of The 7th International Display Workshop, pp.573-576(2000)
(8) Hisae Shibuya, Tatsuo Horiuchi, Kunisuke Kasagi, Beam Profile Measurement System for CRTs Using Wide Dynamic Range Image, IDRC, Proceedings of The 20th International Display Research Conference (2000)
(9) Toshifumi Honda, Hisae Yamamura, Mitsunobu Isobe, Mineo Nomoto, Solder Joint Inspection System Based on Three Dimensional Shape Analysis Enabling Auto-generation of Inspection Parameters from Design Data, 4th Japan-France Congress & 2nd Asia-Europe Congress on Mechatronics (1998)
(10) Toshifumi Honda, Yukio Matsuyama, Hisae Yamamura, Hideo Sasazawa, Takanori Ninomiya, Automated Visual Inspection Algorithm for Solder Joint of Surface Mount Devices Based on Three Dimensional Shape Analysis, MVA'96, Proceedings of IAPR Workshop on Machine Vision Applications, pp.261-266(1996)

3. その他の論文(研究会, シンポジウム等の論文, 筆頭または北大関連のみ）

(1) 米田圭吾, 金子俊一, 渋谷久恵, 仁戸部勤, 飯塚正美, 中山透, 前田俊二, 画像照合に基づく発射弾丸異同識別における有効線条痕の選択, ビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2013), IS2-A11(2013.12)
(2) 渋谷久恵, 前田俊二, 高速局所部分空間法による異常検知技術, 電気学会情報処理研究会, IP-13-7, pp.35-40(2013.3)
(3) 渋谷久恵, 半導体・ＦＰＤ向け外観検査技術, 精密工学会2013年春季大会, A31(2013.3)
(4) 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷 久恵, パラメータ適応型LPCDによるロバスト点群照合, 動的画像処理実利用化ワークショップ(DIA2013)(2013.3)
(5) 渋谷久恵, 外観検査におけるパターン認識技術と予防保全への展開, 第18回画像センシングシンポジウム(SSII2012), OS2-2(2012.6)
(6) 渋谷久恵, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎, 予兆診断のためのリモートモニタリング基準設定支援技術, 第16回動力・エネルギーシンポジウム, pp.43-46(2011.6)
(7) 渋谷久恵, 前田俊二, クラスタリングと部分空間法による異常検知手法, 電気学会一般産業研究会, GID-09-16, pp.83-88(2009.12)
(8) 近藤正一, 高氏秀則, 渋谷久恵, 前田俊二, 吉田実, 中川泰夫, 金子俊一, 不均衡点群データを対象としたロバスト点群照合, ビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2009), C-40, pp.300-305(2009.12)
(9) 近藤正一, 高氏秀則, 渋谷久恵, 前田俊二, 吉田実, 中川泰夫, 金子俊一, 点数不均衡な二次元点群照合のためのパラメータ適応型LCPD, 第15回画像センシングシンポジウム(SSII2009), IS3-14(2009.6)
(10） 渋谷久恵, 来海暁, 諏訪正樹, 庭川誠, 奥田晴久, 羽下哲司, 橋本学：生産システム分野における多次元センシング技術の現状と動向, 電気学会一般産業研究会, GID-08-14, pp.7-11(2008.11)
(11) 渋谷久恵, 前田俊二, 堀田政二, フレキシブルナイブベイズと特徴選択による欠陥分類, ビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2008), C-40, pp.204-208(2008.12)
(12) 近藤正一, 金子俊一, 高氏秀則, 前田俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実, 中川 泰夫, 局所一貫性に基づく点群照合の位置・スケール変化を含む点群への応用, 第13回知能メカトロニクスワークショップ(2008.9)
(13) 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷久恵, 吉田実, 中川泰夫, 局所一貫性に基づく点群照合法, 映像情報メディア学会技術報告, Vol.32, No.35(ME2008 107-138), pp.75-78(2008.8)
(14) 渋谷久恵, 高木裕治, 細谷直樹, 欠陥分布パターン照合に基づく問題工程特定技術, 動的画像処理実利用化ワークショップ(DIA2008), pp.126-131(2008.3)
(15) 浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, 欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法とその応用, 電気学会情報処理研究会, IP-08-7, pp.39-44(2008.2)
(16) 浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, 欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法, 第13回画像センシングシンポジウム(SSII2007), IN2-2(2007.6)
(17) 浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, 局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パタン照合への応用, 精密工学会画像応用技術専門委員会研究会報告, Vol.22, No.1, pp.17-22(2007.7)
(18) 浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, Color LCPDに基づく欠陥点群照合法, ビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2007), I-21, pp.167-172(2007.12)
(19) 浦野貴裕, 金子俊一, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, 近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用, 電気学会情報処理研究会, IP-06-28, pp.41-44(2006.8)
(20) 浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, LCPDに基づく点群位置決め法と欠陥点群照合への応用, ビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2006), A-4H, pp.20-25(2006.12)
(21) 浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, LCPDによる欠陥点群照合のためのロバスト位置決め法, 計測自動制御学会第7回システムインテグレーション部門講演会(SI2006), pp.1332-1333(2006.12)
(22) 渋谷久恵, 高木裕治, 欠陥分布特徴識別について, 精密工学会画像応用技術専門委員会研究会報告, Vol.20, No.4, pp.1-6(2006.1)
(23) 渋谷久恵, 岡部隆史, ルールベース型欠陥分類における自動ルール生成技術, 第11回画像センシングシンポジウム(SSII2005), pp.547-550(2005.6)
(24) 浜松 玲, 渋谷 久恵, 西山 英利, 大 島良正, 前田 俊二 , 野口 稔, 背景別統計的しきい値法を用いた半導体ウェハ検査技術, ビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2004), 11, pp.1-5(2004.12)
(25） 渋谷久恵, 高木裕治, 欠陥分布パターン識別手法の検討, 第６回知能メカトロニクスワークショップ, pp.279-284(2001.8)
(26) 山村久恵, 本田敏文, 松山幸雄, 二宮隆典, 光学的３次元形状検出によるはんだ付自動外観検査技術, 電気学会情報処理研究会, IP-96, pp.83-92(1996.12)

4. 解説記事

(1) 鈴木忠志, 野田統治郎, 渋谷久恵, 鈴木英明, 高度保守サービスに貢献する予兆診断システム, 日立評論, Vol.95, No.12, pp.37-40(2013) (2) 渋谷久恵, 来海暁, 諏訪正樹, 庭川誠, 奥田晴久, 橋本学, 生産システム分野における多次元センシングの応用, 電気学会論文誌D, Vol.131, No.4, pp.426-432(2011)
(3) 渋谷久恵, 岡部隆文, 中川泰夫, 決定木を利用した欠陥分類ルールの自動生成技術, 画像ラボ, Vol.19, No.4, pp. 53-58(2008)
(4) 渋谷久恵, 高木裕治, 細谷直樹, 欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法, 映像情報インダストリアル, Vol.36, No.4, pp.102-108(2004)

5. 招待講演・講師

(1) 企業における研究開発, 千葉工業大学プロジェクトマネジメント学科　専門特別講義(2013.10)
(2) 設備・装置の異常予兆検知技術, 北海道大学大学院情報科学研究科　SSIセミナー特別講義第一）(2013.6)

6. 特許

6.1 成立済
国内登録特許　27件(筆頭 13件), 米国登録特許　37件(筆頭 16件)
6.2 出願中
国内公開特許　65件(筆頭 24件)

7. 受賞

(1)2013年 論文「部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討」により, 「精密工学会高城賞」を受賞
(2)2007年 発表「欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法」により, 画像センシングシンポジウムSSII07「オーディエンス賞」を受賞
(3)2001年 発表「欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法」により, ViEW2001「画像応用技術専門委員会小田原賞」を受賞

8. 学会活動

・精密工学会　画像応用技術専門委員会運営委員(2004年5月〜)副委員長(2010年2月〜2014年2月）
・動的画像処理実利用化ワークショップ(DIA)実行委員(2005年〜2007年)プログラム委員(2008年〜）
・MVA2009, MVA2011, MVA2013 実行委員
・電気学会　多次元センシング情報の産業応用に関する調査専門委員会委員(2007年1月〜2009年12月)